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峰值電流控制的非隔離負(fù)電壓DC/DC開關(guān)電源設(shè)計(jì)
針對(duì)現(xiàn)有非隔離負(fù)電壓DC/DC開關(guān)電源在帶負(fù)載能力以及輸出紋波上的不足,本文提出了一種基于峰值電流控制的新型非隔離負(fù)電壓DC/DC開關(guān)電源設(shè)計(jì)方案,使現(xiàn)在連續(xù)電流模式(CCM)下輸出電容能始終通過輸出電感得到充電。進(jìn)而有效抑制輸出紋波的影響,確保了負(fù)電源的高效率工作和帶負(fù)載能力。
2011-10-19
開關(guān)電源 DC/DC 峰值電流
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插裝線路板的一些可制造性設(shè)計(jì)考慮
電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)師尤其是線路板設(shè)計(jì)人員來說,產(chǎn)品的可制造性是一個(gè)必須要考慮的因素,如果線路板設(shè)計(jì)不符合可制造性設(shè)計(jì)要求,將大大降低產(chǎn)品的生產(chǎn)效率,嚴(yán)重的情況下甚至?xí)?dǎo)致所設(shè)計(jì)的產(chǎn)品根本無法制造出來。目前通孔插裝技術(shù)仍在電子工業(yè)中廣泛使用,本文將介紹一些和通孔插裝有關(guān)的可制造設(shè)計(jì)方...
2011-10-19
插裝線路板 PCB 元器件 元件
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插裝線路板的一些可制造性設(shè)計(jì)考慮
電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)師尤其是線路板設(shè)計(jì)人員來說,產(chǎn)品的可制造性是一個(gè)必須要考慮的因素,如果線路板設(shè)計(jì)不符合可制造性設(shè)計(jì)要求,將大大降低產(chǎn)品的生產(chǎn)效率,嚴(yán)重的情況下甚至?xí)?dǎo)致所設(shè)計(jì)的產(chǎn)品根本無法制造出來。目前通孔插裝技術(shù)仍在電子工業(yè)中廣泛使用,本文將介紹一些和通孔插裝有關(guān)的可制造設(shè)計(jì)方...
2011-10-19
插裝線路板 PCB 元器件 元件
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太陽能LED照明系統(tǒng)設(shè)計(jì)關(guān)鍵事項(xiàng)
在能源日益短缺的今天,自然能的利用成了人們關(guān)注的焦點(diǎn),在各種自然能中,無窮無盡的太陽能以其無處不在的優(yōu)勢(shì)倍受青睞。
2011-10-19
太陽能 LED 照明 電池板
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太陽能LED照明系統(tǒng)設(shè)計(jì)關(guān)鍵事項(xiàng)
在能源日益短缺的今天,自然能的利用成了人們關(guān)注的焦點(diǎn),在各種自然能中,無窮無盡的太陽能以其無處不在的優(yōu)勢(shì)倍受青睞。
2011-10-19
太陽能 LED 照明 電池板
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晶片鍵合質(zhì)量的紅外檢測(cè)系統(tǒng)設(shè)計(jì)
晶片直接鍵合技術(shù)就是把兩片鏡面拋光晶片經(jīng)表面清洗和活化處理,在室溫下直接貼合,再經(jīng)過退火處理增加結(jié)合強(qiáng)度而成為一個(gè)整體的技術(shù)。該技術(shù)不需要任何粘合劑,兩鍵合片的電阻率和導(dǎo)電類型可以自由選擇,工藝簡(jiǎn)單,是制備復(fù)合材料及實(shí)現(xiàn)微機(jī)械加工的最優(yōu)手段[1]。它往往與其他手段結(jié)合使用,既可對(duì)微...
2011-10-19
晶片 測(cè)試 紅外 透射法
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利用多晶X射線衍射實(shí)現(xiàn)半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)在線測(cè)量
利用成熟的分析探測(cè)儀器作為日常的線上監(jiān)測(cè)工具已經(jīng)成為半導(dǎo)體量測(cè)方法一個(gè)重大的發(fā)展趨勢(shì)。掃描電子顯微鏡(SEM)和X射線熒光譜線(XRF)是兩個(gè)最好的例子,如電子微探針等技術(shù)還在研究之中。這種趨勢(shì)的主要推動(dòng)力是實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)材料特性的需要,以便盡早發(fā)現(xiàn)設(shè)備出現(xiàn)的問題。X射線衍射(XRD)因?yàn)槠鋵?duì)...
2011-10-19
半導(dǎo)體廠 半導(dǎo)體 庫存 晶圓代工
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利用多晶X射線衍射實(shí)現(xiàn)半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)在線測(cè)量
利用成熟的分析探測(cè)儀器作為日常的線上監(jiān)測(cè)工具已經(jīng)成為半導(dǎo)體量測(cè)方法一個(gè)重大的發(fā)展趨勢(shì)。掃描電子顯微鏡(SEM)和X射線熒光譜線(XRF)是兩個(gè)最好的例子,如電子微探針等技術(shù)還在研究之中。這種趨勢(shì)的主要推動(dòng)力是實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)材料特性的需要,以便盡早發(fā)現(xiàn)設(shè)備出現(xiàn)的問題。X射線衍射(XRD)因?yàn)槠鋵?duì)...
2011-10-19
半導(dǎo)體廠 半導(dǎo)體 庫存 晶圓代工
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優(yōu)化測(cè)試系統(tǒng)中的矩陣開關(guān)使用方法
隨著測(cè)試系統(tǒng)中接入點(diǎn)越來越復(fù)雜,在測(cè)試系統(tǒng)中如何對(duì)測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行適當(dāng)?shù)呐帕幸越档蜏y(cè)試系統(tǒng)中的開關(guān)成本。本文即介紹了在測(cè)試系統(tǒng)中如何使用矩陣開關(guān)才能達(dá)到最佳的成本效益。
2011-10-19
開關(guān) 電源測(cè)試 電壓 額定負(fù)載
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